Международный научно-практический семинар «Оборудование "Agilent Technologies" для High-End спектрометрии и его возможности для фундаментальных и прикладных исследований»

Cary с UMA.jpg

НИТУ «МИСиС» и Российский офис фирмы "Agilent Technologies" организуют международный научно-практический семинар, который состоится 21 сентября 2016 года в 10.00 в аудитории К-521 (корпус МИСиС на Крымском Валу, д. 3).
Тема семинара: «Оборудование "Agilent Technologies" для High-End спектрометрии и его возможности для фундаментальных и прикладных исследований». 

Российские и зарубежные специалисты в области спектрометрии и спектрального оборудования выступят на семинаре  с докладами:

1) Молекулярная абсорбционная спектроскопия. Основные задачи, методы и направления развития
М.А. Проскурнин
, д.х.н., МГУ имени М.В. Ломоносова, Химический факультет 

2) Обзор спектрального оборудования "Agilent Technologies".
М.И. Мельник, ведущий специалист по спектральному оборудованию "
Agilent Technologies"

3) Возможности спектрофотометров Cary-5000, 7000 и приставки UMA для исследования свойств различных материалов (конструкционные особенности, возможности и примеры использования).
Dr
. Marcus Schulz, Ведущий европейский специалист по прикладному использованию спектрального оборудования "AgilentTechnologies"

4) Опыт использования спектрофотометра "Cary-5000" с приставками "UMA" и "DRA-2500" для испытательных работ в аккредитованной испытательной лаборатории "Монокристаллы и заготовки на их основе НИТУ "МИСиС"
Н.С. Козлова, к.ф.м.н., зав. МУИЛ ППМиД "Монокристаллы и заготовки на их основе"

В рамках семинара состоится посещение испытательной лаборатории "Монокристаллы и заготовки на их основе" (ИЛМЗ), в которую в 2007 году был приобретен спектрофотометр "UV-Vis-Nir Cary - 5000", а в 2015 в спектрофотометр была установлена приставка "UMA" (Universal measurement accessary) производства Agilent technologies.
В лаборатории будет проведен
мастер-класс с демонстрацией возможностей "Cary-5000"  с  "UMA".

Спектрофотометр "Cary-5000"  с универсальной измерительной приставкой "UMA" позволяет автоматически измерять отражение, пропускание и рассеяние в широком диапазоне углов и различных видов поляризации без участия оператора. Приставка оснащена детектором и столиком для образцов, вращающимися независимо друг от друга на 360о.
Это уникальная приставка  обеспечивает решение широкого спектра задач в области исследования свойств, а также контроля и обеспечения качества тонких пленок и покрытий, оптических материалов, стекол и солнечных элементов. Ряд креплений позволяет работать с пробами различных форм и размеров, а так же с порошками и растворами.


Для участия в семинаре просим высылать заявку на адрес zabev@mail.ru

Возврат к списку

Наши проекты

Последние комментарии



Яндекс.Метрика