Наиболее чувствительными являются методы спектральной эллипсометрии, основанные на анализе изменения поляризации света при его отражении от поверхности образца.
Получение нано- и субмикрокристаллических порошков SrFe12O19 с высокой коэрцитивной силой для изготовления магнитопластов и спеченных магнитов методом кристаллизации оксидного стекла.
Решение направлено на расчеты структуры и свойств жидких металлов в условиях ударного сжатия, при давлениях до 500 ГПа и температурах до 50000 К, а также на расчеты термодинамических свойств нанокластеров различного размера.